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[电子信息] 《MEMS可靠性 [(美)哈策尔,(美)席尔瓦] 2012年版》PDF电子书下载

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发表于 2020-5-9 14:13:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
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基本信息:
【作 者】(美)哈策尔,(美)席尔瓦
【丛书名】国外电子与通信教材系列
【形态项】 220
【出版项】 北京:电子工业出版社 , 2012.11
【ISBN号】978-7-121-18805-3
【中图法分类号】TN4
【原书定价】55.00
【主题词】微电子技术-可靠性-高等学校-教材
【参考文献格式】 (美)哈策尔,(美)席尔瓦. MEMS可靠性. 北京:电子工业出版社, 2012.11.
内容提要:
本书是关于MEMS可靠性的一本专著,主要内容包括:用于寿命预测的可靠性统计理论,MEMS产品设计阶段和制造阶段的失效模式,MEMS在使用中的失效模式,MEMS的失效根源及分析,MEMS的试验和鉴定标准,以及提升MEMS可靠性的工具和技术。本书的几位作者在MEMS可靠性方面拥有多年的学术研究经验和工业生产经验,内容具有较高的参考价值。

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