第二课堂网LOGO_提供大学课程免费自学视频教程下载

免费自学网站 手机站扫一扫
查看: 68|回复: 0

GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范

[复制链接]

3万

主题

4万

帖子

1万

积分

管理员

第二课堂网站长

Rank: 9Rank: 9Rank: 9

活跃会员热心会员推广达人灌水之王突出贡献荣誉管理

发表于 2020-12-10 01:28:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
"【标准名称】GB/T 24468-2009半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范
【标准号】GB/T 24468-2009
        【标准英文名】Specification for definition and measurement of semiconductor equipment reliability, availability, and maintainability(RAM)
       
       
        【实施日期】2009.12.01
        【中标分类号】L85
        【ICS分类号】17.040.30
          【引用标准】SEMI E10-0304,MOD
          【起草单位】中国电子技术标准化研究所
          【发布单位】中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局  中国国家标准化管理委员会
标准简介:
"

标准下载地址:
购买主题 本主题需向作者支付 5 资料币 才能浏览

.........................................................................................................................
下载说明
◎本站资源均可免费下载(由第二课堂网精心整理),您可以通过每天登陆获取积分。如何获取积分?
◎如果个别的资料下载链接失效或者有问题,您可以点击资源链接失效帖进行留言反馈给我们,我们会第一时间进行更正处理,谢谢!
◎如果您下载的视频教程是为非常规的格式,您不会使用,请点击网络视频使用教程!
◎本站所有资源全部从互联网搜集或网友上传,本站不拥有资源的版权资源仅供大家学习参考,请在下载后24小时内删除。如果侵犯您的权益请您及时联系我们。


上一篇:GB/T 24424-2009 馆藏说明
下一篇:GB/T 24611-2009 滚动轴承 损伤和失效 术语、特征及原因
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

快速回复 返回顶部 返回列表